借鑒內部參考技術，不需要在單獨的位置上進行外部參考測量。這保證了連續(xù)多點薄膜測量的速度。

多探頭裝置

多達7個傳感器探頭由一個控制器驅動，為均勻性監(jiān)測提供了具有成本效益的解決方案。

SENTECH先進軟件

易于使用、基于配方的FTP軟件包括一個大型的預定義應用數(shù)據(jù)庫，這些應用符合研發(fā)以及生產(chǎn)環(huán)境中的質量控制要求。

RT inline 薄膜測量系統(tǒng)是為沉積過程的在線質量控制而設計的。該方法基于SENTECH著名的薄膜厚度探針FTPadv，用于測量反射率和薄膜厚度。它分別工作在420～1050 nm、2000～2500 nm的光譜范圍內。可以分析光滑和紋理結構的TCO薄膜、CdS薄膜、a-Si、µ-Si、CIGS和CdTe吸收膜。

通過RT inline，可以無損傷地監(jiān)測大型玻璃基板或塑料線圈上TCO、吸收層和緩沖層沉積的均勻性。薄膜厚度和反射率測量是通過固定安裝的傳感器探頭在玻璃基板上方從沉積設備傳送到下一個工藝期間進行的。

一個控制器可以操作多達7個傳感器，使得RT inline測量儀器具有成本效益、靈活性和生產(chǎn)性的結果。選配的超聲傳感器控制探頭和玻璃平臺之間的距離，以排除錯誤的測量結果。

SENTECH配方驅動的FTP軟件FTPadv Expert包括預定義的即用應用程序綜合包。它提供了一個選配的軟件接口，用于將數(shù)據(jù)從測量儀器傳輸?shù)街鳈C。因此，可以通過來自主機或傳送的信號手動或自動進行薄膜測量。

使用SENTECH SENresearch光譜橢偏儀開發(fā)的配方可以直接傳輸?shù)絉T inline中?；谶@樣的光譜數(shù)據(jù)，甚至可以在線測量復雜的層疊膜。